Оптоэлектроника и оптические системы, технологии электронного приборостроения, микроэлектроника, радиоэлектроника; нанотехнологии, энергоэффективные технологии и техника; агропромышленные технологии и производства; переработка сельскохозяйственной продукции, производство продовольствия; робототехника, интеллектуальные системы управления; новые многофункциональные материалы, специальные материалы с заданными свойствами, технологии профилактики, диагностики и лечения заболеваний, реабилитационные технологии, фармацевтические технологии, медицинские биотехнологии, лекарственные средства, диагностические препараты и тест-системы, медицинская техника, гигиенические оценка и нормирование факторов среды обитания, минимизация рисков для здоровья человека; биотехнологии в сельскохозяйственном производстве и пищевой промышленности; информационные авиационно-космические технологии, средства технической и криптографической защиты информации, технологии и системы электронной идентификации; устойчивое использование природных ресурсов и охрана окружающей среды; солнечная электроэнергетика; перспективные средства и технологии обеспечения национальной безопасности и обороноспособности, защита населения и территорий от чрезвычайных ситуаций.

Принцип действия эталона основан на расчете по формуле Планка значений СПЭЯ излучения МВЧТ ВВ3500М, температура излучающей полости которого измеряется прецизионным пирометром LP-5.

Воспроизведение и передачу размера единицы СПЭЯ излучения осуществляют следующим образом: устанавливают номинальную температуру МВЧТ ВВ3500М в диапазоне от 800 до
3500 К. Прецизионным линейным пирометром LP5 измеряют температуру излучающей полости МВЧТ. Значения СПЭЯ в Вт·м^-3·ср^-1, воспроизводимые на эталоне при установленной температуре, рассчитывают по формуле Планка. После чего, с помощью спектральных систем, входящих в состав УФ-системы и КСИВЕ, проводят измерения интенсивности излучения МВЧТ. Полученным значениям на конкретных длинах волн излучения приписывают значения СПЭЯ, полученные в результате расчета для установленных номинальных значений температуры МВЧТ, и формируют калибровочные файлы для спектральных систем. Затем выполняют калибровку по СПЭЯ излучения вторичных эталонов – эталонных ламп. Хранение шкалы СПЭЯ излучения осуществляется на эталонных лампах, которые являются групповым эталоном. Передача размера единицы СПЭЯ излучения СИ осуществляется с помощью эталонных ламп.

Воспроизведение и передачу размера единицы СПЭО, создаваемой источниками оптического излучения, осуществляют следующим образом. Устанавливают номинальную температуру МВЧТ ВВ3500М в диапазоне от 800 до 3500 К. Прецизионным линейным пирометром LP5 измеряют температуру излучающей полости МВЧТ. Рассчитывают значения СПЭО излучения для установленной температуры МВЧТ. После чего рассчитывают значения СПЭО, создаваемой МВЧТ, в Вт·м^-3, воспроизводимые с помощью МВЧТ. После чего, с помощью спектральных систем, входящих в состав УФ-системы и КСИВЕ, проводят измерение интенсивности излучения МВЧТ. Полученным значениям на конкретных длинах волн излучения приписывают значения СПЭО, создаваемой МВЧТ, полученные в результате расчета для установленных номинальных значений температуры МВЧТ, и формируют калибровочные файлы для спектральных систем. Затем выполняют калибровку по СПЭО вторичных эталонов – эталонных ламп. Хранение шкалы СПЭО, создаваемой источниками оптического излучения, осуществляется на эталонных лампах, которые являются групповым эталоном. Передача размера единицы СПЭО, создаваемой источниками оптического излучения, СИ осуществляется с помощью эталонных ламп.

Воспроизведение и передачу размера единицы силы излучения осуществляют следующим образом. Устанавливают номинальную температуру МВЧТ ВВ3500М в диапазоне от 800
до 3500 К. Прецизионным линейным пирометром LP5 измеряют температуру излучающей полости МВЧТ. Фильтровым радиометром на основе трап-детектора с установленными фильтрами измеряют интенсивность излучения МВЧТ на расстоянии 1 м от него. Затем рассчитывают силу излучения После чего выполняют калибровку по силе излучения вторичных эталонов – фильтровых радиометров. Хранение шкалы силы излучения осуществляется на фильтровых радиометрах, которые являются групповым эталоном.

Диапазон спектральной плотности энергети­ческой яркости (СПЭЯ) в диапазоне длин волн от 0,2 до 3,0 мкм составляет от 1·10^-1 до 1·10¹² Вт·м^-3·ср^-1.

Диапазон спектральной плотности энергетиче­ской освещенности (СПЭО) в диапазоне длин волн от 0,2 до 3,0 мкм со­ставляет от 4,5·10^-3 до 2,8·10¹⁰ Вт·м^-3.

Диапазон воспроизве­дения силы излучения в диапазоне длин волн от 0,2 до 3,0 мкм составляет от 2·10^-1 до 1·10² Вт·ср^-1.

Случайная погрешность вос­произведения спектральной плот­ности энергетической яркости (СПЭЯ) составля­ет от 2,50 % до 0,17 %, в зависи­мости от длины волны излучения.

Случайная погрешность передачи спектральной плот­ности энергетической яркости (СПЭЯ) составля­ет от 2,52 % до 0,20 % в зави­симости от длины волны излу­чения.

Случайная погрешность вос­произведения спектральной плотности энергетиче­ской освещенности (СПЭО) составля­ет от 2,50 % до 0,20 % в зависи­мости от длины волны излучения.

Случайная погрешность передачи спектральной плотности энергетиче­ской освещенности (СПЭО) составля­ет от 2,60 % до 0,20 % в зави­симости от длины волны излу­чения.

Случайная погрешность воспроизве­дения силы излучения  составля­ет не более 0,01 %.

Случайная погрешность передачи силы излучения составля­ет не более 0,02 %.

Неисключенная систематическая погрешность вос­произведения спектральной плот­ности энергетической яркости (СПЭЯ) составляет от 2,00 % до 0,25 %  в зависимости от дли­ны волны излучения.

Неисключенная систематическая погрешность передачи спектральной плот­ности энергетической яркости (СПЭЯ) составляет от 2,01 % до 0,28 % в зависимости от длины волны излучения.

Неисключенная систематическая погрешность вос­произведения спектральной плотности энергетиче­ской освещенности (СПЭО) составля­ет от 2,50 % до 0,35 %, в зависимости от дли­ны волны излучения.

Неисключенная систематическая погрешность передачи спектральной плотности энергетиче­ской освещенности (СПЭО) составля­ет от 2,60 % до 0,35 % в зависимости от длины волны излучения.

Неисключенная систематическая погрешность воспроизве­дения силы излучения составля­ет не более 0,15 %.

Неисключенная систематическая погрешность передачи силы излучения составля­ет не более 0,15 %.

Относительная суммарная стан­дартная неопределенность вос­произведения спектральной плот­ности энергетической яркости (СПЭЯ) составляет от 1,014 % до 0,327 % в зависимости от длины волны.

Относительная суммарная стан­дартная неопределенность вос­произведения спектральной плотности энергетиче­ской освещенности (СПЭО) составля­ет от 1,014 % до 0,345 % в зависимости от длины волны.

Расширенная неопределенность (к = 2, Р = 95 %) вос­произведения спектральной плот­ности энергетической яркости (СПЭЯ) составляет от 2,03 % до 0,65 % в зависимости от дайны волны излучения.

Расширенная неопределенность (к = 2, Р = 95 %) передачи спектральной плот­ности энергетической яркости (СПЭЯ) составляет от составляет от 2,04 % до 0,70 %, в зависимости от длины волны излучения.

Расширенная неопределенность (к = 2, Р = 95 %) вос­произведения спектральной плотности энергетиче­ской освещенности (СПЭО) составляет от 2,03 % до 0,69 %, в за­висимости от длины волны излучения.

Расширенная неопределенность (к = 2, Р = 95 %) передачи спектральной плотности энергетиче­ской освещенности (СПЭО) составляет от 2,04 % до 0,70 %, в зависимости от длины волны излучения.

Расширенная неопределенность (к = 2, Р = 95 %) воспроизве­дения силы излучения составляет не более 0,30 %.

Расширенная неопределенность (к = 2, Р = 95 %) передачи силы излучения составляет не более 0,31 %.

COOMET.PR-K1a

комплекс средств измерений для воспроизведения единиц СПЭО и СПЭЯ на базе эталонной модели высокотемпературного черного тела ВВ3500М (КСИВЕ);

система измерений в ультрафиолетовой области спектра (УФ-система);

система для калибровки широкоапертурных средств измерений (Вид/БИК-система);

прибор контроля параметров окружающей среды.